Clara Fischer
- Telefon: +49 1517 8901234
- E-Mail: clara.fischer@email.com
- Standort: München, Deutschland
- LinkedIn: clarafischerphysikerin
Zusammenfassung
Fünf Jahre Erfahrung in der Entwicklung und Charakterisierung neuartiger Materialien unter Einsatz fortschrittlicher physikalischer Analysemethoden. Spezialisiert auf Oberflächenphysik und Dünnschichttechnologien, mit nachweislicher Expertise in der Optimierung von Materialeigenschaften für spezifische Anwendungen. Erfolgreiche Leitung von Forschungsprojekten zur Verbesserung der Leistung von Halbleiterbauelementen und Sensoren.
Berufserfahrung
Wissenschaftliche Mitarbeiterin, Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik (IAF) -- Freiburg, Deutschland
März 2021 – gegenwärtig
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Entwicklung und Optimierung von Dünnschichtsystemen für optoelektronische Anwendungen, was zu einer Effizienzsteigerung von 15% bei Prototypen führte.
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Durchführung von Oberflächenanalysen mittels XPS, SIMS und AFM zur Charakterisierung von Materialeigenschaften und Defekten.
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Publikation von 4 Artikeln in referierten Fachzeitschriften und Präsentation auf internationalen Konferenzen.
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Betreuung von Masteranden und Doktoranden bei experimentellen Arbeiten und Datenanalyse.
Junior-Physikerin für Materialentwicklung, NanoMat GmbH -- München, Deutschland
September 2019 – Februar 2021
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Analyse von Nanomaterialien und Kompositen zur Bestimmung physikalischer und chemischer Eigenschaften.
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Mitarbeit an der Entwicklung einer neuen Generation von Sensormaterialien, die die Empfindlichkeit um 20% verbesserte.
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Implementierung neuer Messmethoden zur Qualitätssicherung von Materialproben.
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Erstellung detaillierter Berichte und Dokumentationen der Forschungsergebnisse für interne und externe Partner.
Ausbildung
Technische Universität München (TUM), Dr. rer. nat. in Physik mit Schwerpunkt Festkörperphysik -- München, Deutschland
Oktober 2015 – September 2019
Ludwig-Maximilians-Universität München (LMU), M.Sc. in Physik -- München, Deutschland
Oktober 2013 – September 2015
Ludwig-Maximilians-Universität München (LMU), B.Sc. in Physik -- München, Deutschland
Oktober 2010 – September 2013
Fähigkeiten
Materialcharakterisierung: Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS), Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS), Rasterkraftmikroskopie (AFM), Rasterelektronenmikroskopie (REM), Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), Röntgendiffraktometrie (XRD), Ellipsometrie
Materialwissenschaften: Festkörperphysik, Oberflächenphysik, Dünnschichttechnologie, Halbleitermaterialien, Nanomaterialien, Materialentwicklung, Vakuumtechnik
Datenanalyse & Software: OriginPro, MATLAB, Python (NumPy, SciPy, Matplotlib), LabVIEW, MS Office Suite
Labor & Experimentelle Fähigkeiten: Reinraumumgebung, Probenpräparation, Spektroskopie, Mikroskopie, Vakuumsysteme, Fehleranalyse
Sprachen: Deutsch (Muttersprache), Englisch (Fließend)