吉田 翔太
- 電話: +81 90 7654 3210
- メール: shota.yoshida@email.com
- 所在地: 横浜, 日本
- LinkedIn: shota-yoshida-physicist
概要
過去8年間、革新的な材料開発と特性評価に従事し、特にナノ材料の合成、構造分析、電気的特性評価において専門知識を培ってきました。先進的な表面分析技術を駆使し、新機能性材料の設計と最適化を通じて、製品性能を20%向上させた実績があります。複雑な物理現象を解明し、産業応用可能なソリューションを創出することに情熱を注いでいます。
職歴
主任研究員 (材料科学), 富士フイルム株式会社 -- 横浜, 日本
4月 2019 – 現在
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新規高分子材料の合成と特性評価プロジェクトを主導し、光学フィルムの耐久性を15%向上させることに成功しました。
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原子間力顕微鏡 (AFM) および走査型電子顕微鏡 (SEM) を用いたナノ構造分析により、材料の表面改質メカニズムを解明し、製造プロセスの最適化に貢献しました。
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X線回折 (XRD) とX線光電子分光 (XPS) を使用した結晶構造および元素分析により、製品の安定性と性能向上に不可欠なデータを提供しました。
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多分野にわたる研究チームを率い、年間5件以上の社内技術報告書を作成し、3件の特許出願に貢献しました。
研究員 (物理科学), 株式会社東芝 研究開発センター -- 川崎, 日本
4月 2016 – 3月 2019
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半導体デバイス用の次世代絶縁材料の研究開発に従事し、誘電率を10%低減する新材料を発見しました。
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ラマン分光法とフーリエ変換赤外分光法 (FTIR) を用いて、薄膜材料の化学結合状態と構造的欠陥を詳細に分析しました。
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低温物理学実験を行い、超伝導材料の電気抵抗特性を評価し、データ解析ソフトウェアを用いてシミュレーションモデルを構築しました。
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国際学会で2件の論文を発表し、研究成果を積極的に共有しました。
学歴
東京大学大学院, 物理学 理学博士 -- 東京, 日本
4月 2011 – 3月 2016
東京大学, 物理学 理学士 -- 東京, 日本
4月 2007 – 3月 2011
スキル
物理分析技術: 原子間力顕微鏡 (AFM), 走査型電子顕微鏡 (SEM), X線回折 (XRD), X線光電子分光 (XPS), ラマン分光法, FTIR, 質量分析 (MS), 熱分析 (DSC/TGA)
材料科学: ナノ材料合成, 高分子材料, 半導体材料, 結晶成長, 表面処理, 薄膜形成, 材料特性評価, 欠陥解析
データ解析・シミュレーション: Python (データサイエンスライブラリ), MATLAB, OriginPro, COMSOL Multiphysics, 第一原理計算 (DFT), 有限要素法 (FEM)
実験技術: 真空技術, クリーンルーム作業, 高温・低温実験, 電気特性測定 (I-V, C-V), 光学測定
語学: 日本語 (ネイティブ), 英語 (ビジネスレベル)
